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25MHz ±30ppm 수정 18pF 40옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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8MHz ±30ppm 수정 18pF 80옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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14.7456MHz ±30ppm 수정 18pF 50옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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20MHz ±30ppm 수정 18pF 40옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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16MHz ±30ppm 수정 18pF 40옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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12MHz ±30ppm 수정 18pF 50옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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10MHz ±30ppm 수정 18pF 60옴 -20°C ~ 70°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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20kHz ±100ppm 수정 11pF 55k옴 -10°C ~ 60°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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32.768kHz ±20ppm 수정 12.5pF 65k옴 -40°C ~ 85°C 표면실장(SMD, SMT) 2-SMD


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4MHz ±50ppm 수정 18pF 150옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)


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4MHz ±50ppm 수정 18pF 150옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)


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100kHz ±100ppm 수정 11pF 12k옴 -10°C ~ 60°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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32.768kHz ±20ppm 수정 12.5pF 55k옴 -10°C ~ 60°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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149.475kHz ±100ppm 수정 11pF 10k옴 -10°C ~ 60°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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4MHz ±50ppm 수정 18pF 150옴 -10°C ~ 60°C 스루홀 원통형 캔, 레이디얼


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38.4MHz ±10ppm 수정 8.5pF 40옴 -20°C ~ 75°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC)


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32MHz ±10ppm 수정 10pF 60옴 -40°C ~ 85°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC)


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18.432MHz ±50ppm 수정 18pF 40옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)


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12.288MHz ±50ppm 수정 18pF 50옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)


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14.7456MHz ±50ppm 수정 18pF 50옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)


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11.0592MHz ±50ppm 수정 18pF 60옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead)