창고: HONGKONG
Date Code: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
내부 부품 번호 | EIS-CSD16556Q5B | |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 납 함유 / RoHS 준수 | |
수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
생산 현황 (라이프 사이클) | In Production | |
지위 | New & Unused, Original Sealed | |
규격서 | CSD16556Q5B | |
PCN 설계/사양 | Qualification Revision A 01/Jul/2014 | |
PCN 조립/원산지 | VSON Additional Assembly Site 28/Oct/2013 Qualification Wire Bond 27/May/2014 Assembly/Test Site Transfer 19/Dec/2014 | |
제조업체 제품 페이지 | CSD16556Q5B Specifications | |
종류 | 이산 소자 반도체 제품 | |
제품군 | FET - 단일 | |
제조업체 | Texas Instruments | |
계열 | NexFET™ | |
포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
부품 현황 | 유효 | |
FET 유형 | MOSFET N-Chan, 금속 산화물 | |
FET 특징 | 논리 레벨 게이트 | |
드레인 - 소스 전압(Vdss) | 25V | |
전류 - 연속 드레인(Id) @ 25°C | 100A(Tc) | |
Rds On(최대) @ Id, Vgs | 1.07m옴 @ 30A, 10V | |
Id 기준 Vgs(th)(최대) | 1.7V @ 250µA | |
게이트 전하(Qg) @ Vgs | 47nC(4.5V) | |
입력 정전 용량(Ciss) @ Vds | 6180pF @ 15V | |
전력 - 최대 | 3.2W | |
작동 온도 | -55°C ~ 150°C(TJ) | |
실장 유형 | 표면실장(SMD, SMT) | |
패키지/케이스 | 8-전력TDFN | |
공급 장치 패키지 | 8-VSON(5x6) | |
표준 포장 | 2,500 | |
다른 이름 | 296-35627-2 CSD16556Q5B-ND | |
무게 | 0.001 KG | |
신청 | Email for details | |
대체 부품 (교체) | CSD16556Q5B | |
관련 링크 | CSD16, CSD16556Q5B Datasheet, Texas Instruments Distributor |
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![]() | 416F48013IAR | 48MHz ±10ppm 수정 10pF 100옴 -40°C ~ 85°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, 무연(DFN, LCC) | 416F48013IAR.pdf | |
![]() | SIT8008BC-23-33E-27.002000E | OSC XO 3.3V 27.002MHZ OE | SIT8008BC-23-33E-27.002000E.pdf | |
![]() | ELJ-RF4N3ZFB | 4.3nH Unshielded Multilayer Inductor 360mA 160 mOhm Max 0402 (1005 Metric) | ELJ-RF4N3ZFB.pdf | |
![]() | CRGV2010J1M6 | RES SMD 1.6M OHM 5% 1/2W 2010 | CRGV2010J1M6.pdf | |
![]() | RT0805CRC0735R7L | RES SMD 35.7 OHM 0.25% 1/8W 0805 | RT0805CRC0735R7L.pdf | |
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